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OTDR 如何處理實(shí)際測試中的盲點(diǎn)

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2018-07-18
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一系列“盲點(diǎn)”通常被稱(chēng)為盲區，導致有源連接器和機械連接器等特征點(diǎn)的反射導致 OTDR 接收器飽和。

光纖中的盲區分為事件盲區和衰減盲區：有源連接器的介入引起的反射峰，從反射峰起點(diǎn)到接收端飽和峰的長(cháng)度距離，為稱(chēng)為事件盲區，光纖中的反射峰是由有源連接器介入引起的，從反射峰的起點(diǎn)開(kāi)始稱(chēng)為衰減盲區。對于 OTDR，盲區越小越好。盲區會(huì )隨著(zhù)脈沖加寬寬度的增加而增加，增加脈沖寬度的同時(shí)增加了測量長(cháng)度，同時(shí)也增加了測量盲區，所以在測試光纖時(shí)，光纖和相鄰事件點(diǎn)的測量OTDR 附件應使用窄脈沖，而寬脈沖應用于測量光纖的遠端。

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